김영헌 한국표준과학연구원 첨단측정장비센터 책임연구원팀은 투과전자현미경을 이용해 ‘나노선(nano wire)’의 특성 변화를 측정하는 기술을 개발했다고 6일 밝혔다. 고효율 반도체 등 차세대 전자기기 연구에 보탬이 될 것으로 기대된다. 나노선은 지름이 나노미터(nm, 1nm는 10억 분의 1m) 수준의 가느다란 선으로 반도체, 트랜지스터, 발광다이오드(LED) 등 다양한 전자기기 회로를 구성하는데 쓸 수 있다. 하지만 기존 측정 기술로는 나노미터 단위 물질의 기계적, 전기적 특성 변화를 측정하기 어려워 기술 개발에 한계가 있다. 연구팀은 물...